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3380-P VLSI測試係統

更新時間：2024-11-10

簡要描述：

3380-P VLSI測試係統

主要特色：
•85 MHz 測試頻率
•512 logic I/O pins （ Z高可至 576 pins）
•平行測試可達 512 devices
•16/32 M Pattern 記憶體(ti)

  免費谘詢：0755-23217122

  發郵件給我們(men) ：xz01@junhuiyiqi.vip

3380-P VLSI測試係統

 

主要特色：

  • 85 MHz 測試頻率
  • 512 logic I/O pins ( zui高可至 576 pins)
  • 平行測試可達 512 devices
  • 16/32 M Pattern 記憶體
  • 多樣彈性 VI 電源
  • 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
  • Real parallel Trim/Match 功能
  • 時序頻率測試單位 (TFMU)
  • AD/DA 功能卡 選配 (16 ~24 bits)
  • SCAN 測試功能 選配 (1G/Board)
  • ALPG 測試 選配供記憶體IC用
  • STDF 工具支援
  • 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020,ITS9K)
  • 人性化 Window 7操作環境
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 程式語言同3360P & 3360

 

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