3380-D VLSI測試係統

3380-D VLSI測試係統

主要特色：

• 100 MHz 測試頻率
• 256 logic I/O pins ( zui高可至 576 pins)
• 平行測試可達 256 devices
• 32/64/128 M Pattern 記憶體
• 多樣彈性 VI 電源
• 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match 功能
• 時序頻率測試單位 (TFMU)
• AD/DA 功能卡 選配 (16/24 bits)
• SCAN 測試功能 選配 (1G/Board)
• ALPG 測試 選配供記憶體IC用
• STDF 工具支援
• 測試程式/pattern 轉換器(J750, D10, V50, E320, SC312, V7,TRI-6020, ITS9K)
• 人性化 Window 7操作環境
• CRAFT C/C++ 程式語言
• 程式語言同3360P & 3360
• Direct mount 治具可相容於3360P probe-Card
• Cable mount 治具可相容於3360D & 3360P

為(wei) 因應未來IC晶片須具更高速度及更多腳位及功能更複雜的IC晶片，Chroma新一代VLSI測試機 3380D/380P/3380除採用更彈性架構外，整合密度更高且功能更強大。 3380D/3380P/3380機型為(wei) 因應高同測功能 (High Parallel Test)，除內(nei) 建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source) 外，更具備any-pins-to-any-site高同測功能( 256 I/O pin可 同測256個(ge) 測試晶片)，以因應未來IC晶片更高的測試需求。

3380D/380P/3380 係列同時具備機框式直流電源供應的小型/低耗能化設計及非常具競爭(zheng) 性的機台性價(jia) 比。

3380D VLSI 測試係統非常適合應用於(yu) IoT相關(guan) 的晶片測試，尤其是一些具成本壓力的元件 如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI 測試係統 3380D/3380P/3380 係列開發至今，已在大中華 地區被廣泛的採用。