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3380 VLSI測試係統

更新時間：2024-11-10

簡要描述：

3380 VLSI測試係統
主要特色：
•50/100 MHz 測試頻率
•50/100 Mbps data rate
•1024 I/O pins （Z高可至1280 I/O pins）
•平行測試可達1024 sites
•32/64 M pattern 記憶體(ti)

  免費谘詢：0755-23217122

  發郵件給我們(men) ：xz01@junhuiyiqi.vip

3380 VLSI測試係統

主要特色：

  • 50/100 MHz 測試頻率
  • 50/100 Mbps data rate
  • 1024 I/O pins (zui高可至1280 I/O pins)
  • 平行測試可達1024 sites
  • 32/64 M pattern 記憶體
  • 多樣彈性 VI 電源
  • 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA,)
  • Real parallel trim/match 功能
  • 時序頻率測試單位 (TFMU)
  • 高速時序測試單位 (HSTMU)
  • AD/DA 功能卡 選配
  • SCAN 測試功能 選配 (zui高 1G M/chain)
  • ALPG 測試選配供記憶體IC用
  • STDF 工具支援
  • 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10,V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
  • 人性化 Window 7操作環境
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 程式語言同 3380P & 3360P

 

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