6332A/B 光回波損耗測試儀

6332A/B 光回波損耗測試儀(yi)

6332A/B光回波損耗測試儀(yi) 內(nei) 置2×2光開關(guan) ，可快速實現光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時，不需要在光纖末端進行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測試效率。通過內(nei) 置激光器功率檢測模塊，實現光插入損耗準確測試。產(chan) 品廣泛應用於(yu) 光纖通信科研、教學和生產(chan) 領域。

6332A/B 光回波損耗測試儀(yi)

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6332A/B 光回波損耗測試儀(yi)

6332A/B光回波損耗測試儀(yi) 內(nei) 置2×2光開關(guan) ，可快速實現光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時，不需要在光纖末端進行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測試效率。通過內(nei) 置激光器功率檢測模塊，實現光插入損耗準確測試。產(chan) 品廣泛應用於(yu) 光纖通信科研、教學和生產(chan) 領域。