6362C 光譜分析儀

6362C 光譜分析儀

6362C光譜分析儀(yi) 采用*的雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學楔形延遲消偏振、小信號和寬波段光譜檢測等技術研製而成。整機性能指標達到國際同類產(chan) 品較高水平。適用於(yu) 600～1700nm波段範圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學濾波器、光纖放大器、波分複用器等光電子元器件及有關(guan) 係統的測試。

6362C 光譜分析儀

功能特點

主要特點

● 0.05nm最小分辨帶寬

● -90 dBm電平測量靈敏度 

● ndB損耗分析

● 包絡分析

● 測試數據存儲(chu) 輸出

● 激光光源測試

● 光學濾波器測試

0.05nm最小分辨帶寬

    6362C光譜分析儀(yi) 支持不同光譜分辨帶寬的設置，寬譜光源與(yu) 窄譜線光源測試靈活切換。並且最小分辨帶寬可達0.05nm。

-90 dBm電平測量靈敏度 

通過低噪聲放大、雜散光抑製、數字濾波等技術，極大地降低了儀(yi) 器噪聲，提高了信噪比，電平測量靈敏度在1250nm～1600nm波段優(you) 於(yu) －90dBm。

ndB損耗分析

產(chan) 品具有強大的分析功能，快速分析光譜參數，儀(yi) 器自身就能完成複雜的計算。分析功能包括波峰檢索、閾值分析、損耗分析、邊模分析、包絡分析、均方根和光功率分析等，滿足您的全部需求。

包絡分析

測試數據存儲(chu) 輸出

光譜測試數據可用.bmp或.osd格式文件存儲(chu) 和輸出。

激光光源測試

儀(yi) 器可以對多類型激光器進行一鍵測試與(yu) 分析，實現所有測試項目批處理。

光學濾波器測試

除了半導體(ti) 激光光源（DFB-LD、FP-LD、LED）光譜測量應用外，儀(yi) 器還集成了光纖偏振模色散測量應用、波分複用應用、光纖放大器應用、LD模塊應用、波分複用濾波器應用、波分複用光纖放大器應用等光譜應用功能。

典型應用

LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光譜波形分析

6362C 光譜分析儀