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3112 晶片測試分類機

更新時間:2024-11-10

簡要描述:

3112 晶片測試分類機
主要特色:
•高信賴度之PnP自動化測試分類機
•x4 多盤置入自動測試分類
•* (X/Y/Z/θ) 可調式探針座模組
•測式座產(chan) 品堆疊檢測
•x12 輸出分類盤可程式設定輸出類別

  免費谘詢:0755-23217122

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3112 晶片測試分類機

主要特色:

  • 高信賴度之PnP自動化測試分類機
  • x4 多盤置入自動測試分類
  • * (X/Y/Z/θ) 可調式探針座模組
  • 測式座產品堆疊檢測
  • x12 輸出分類盤可程式設定輸出類別
  • 全程即時良率顯示與控製
  • 全程探針接觸狀態顯示 (選配)

Chroma 3112具備單頭與(yu) 多頭之適合量產(chan) 的PnP 自動化晶片測試分類機,可藉由治具變更處理 各種不同尺寸規格之晶片測試與(yu) 分類。此設備透 過PnP方式將晶片自晶片盤載入至測試站中,精 確的測試後依據測試結果穩定的放置於(yu) 分類盤 中。其高效率的模組化設計與(yu) 精準的機構傳(chuan) 動 結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產(chan) 要 求,多重檢查功能裝置可降低待測物發生異常的 損壞。

晶片測試運用此自動化測試分類技術不僅(jin) 能提升 生產(chan) 效率、減少人力需求,同時也增加了測試穩 定度及測試良率。此外,其簡潔的機台設計更可 節省機台於(yu) 測試廠之佔地麵積,幫助客戶大幅降 低生產(chan) 成本。

 

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