3280 Test-In-Tray測試分類機

主要特色：

• 整合SD卡測試機與自動分類機功能
• 平行測試120個micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的測試時間為例)
• 支援SD卡資料通訊協定
• 支援DC參數量測功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map與分類結果資訊
• 小機台體積 : 164cm x 79cm x 180cm
• 選配設備
• 3rd Party測試模組整合
• Mini SD, SD與MMC的測試介麵
• SD卡資料寫入模組

Chroma 3280採用創新的技術整合SD卡測試機與(yu) 自動分類機的功能，並利用Test-In-Tray的技術來 達到大量平行測試的能力。透過支援SD資料傳(chuan) 輸協定(SD Protocol Aware)與(yu) 提供特定DC參數測 試的功能，3280為(wei) 所有的SD卡類產(chan) 品帶來了一 個(ge) 創新的測試方法，而這高效率的測試方法也為(wei) 客戶帶來大幅降低生產(chan) 成本的好處。此外，小機 台的設計更可節省機台於(yu) 測試廠之佔地麵積。

對於(yu) 低價(jia) 的消費性產(chan) 品而言,即使在生產(chan) 成本上 僅(jin) 有些微的差距，製造商也會(hui) 極為(wei) 敏感。而這樣 的特性往往是此類消費性產(chan) 品在成品測試中之一 大挑戰。對於(yu) SD卡類產(chan) 品而言，為(wei) 了能夠降低 生產(chan) 的成本，SD卡類製造商了解在SD卡的製程 中必須採用Known Good Die(KGD)來進行生產(chan) 。 其主要的原因，乃是因為(wei) 採用KGD生產(chan) 的SD卡類 產(chan) 品，將可減少在成品測試中對於(yu) 測試項目的要 求，隻需針對成品封裝過程中所可能產(chan) 生的瑕疵 進行檢測，而不需要再對整個(ge) 晶片進行完整的測 試。

Chroma 3280整合了測試機台與(yu) 自動分類機的功 能，並採用創新的設計，滿足採用KGD生產(chan) 的SD 卡類產(chan) 品的測試需求，不論是在機台的成本或是 體(ti) 積上，都比傳(chuan) 統的測試機台來的大幅降低，因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的測試解決方案

Test-In-Tray : 乃是將待測物置於(yu) IC托盤中直接測 試的測試方式。利用這樣的測試方法，可以大幅 節省傳(chuan) 統的測試方法因自動分類機在進行測試 時，必須以機器手臂夾取每個(ge) 待測元件所需花取 的索引時間。因此，提供了一個(ge) zui有效率的測試 方法。在Chroma 3280中,對於(yu) 120個(ge) SD卡進行測 試時所需花費的索引時間大約隻有10秒鐘。

高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個(ge) 專(zhuan) 屬 的SD卡測試機巢 (Test Hive)，此一測試機巢提供 了能夠同時測試120個(ge) micro SD卡的測試能力。