3160 4site終端測試分類機

3160 4site終端測試分類機

主要特色：

• 9K pcs 產能 (Model 3160 / 3160A )
• 彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 (3160F)
• 1~10 Kgf 微型接觸力 (3160F)
• 1 x 4 DUT架構 (3160/3160F)
• 1 x 4或2 x 2 DUT架構 (3160A)
• 主動式熱控模組 (選購) (3160A)
• 馬達式Arm Z (3160A)
• 氣缸式側推功能 (3160A)
• 空載盤自動堆疊 (選購) (3160A / 3160F)
• 可設定的待測物間距
• 可側邊安裝測試機
• 可編程氣動式阻尼器控製，以減少接觸力的影響響
• 智慧型IC殘留檢測
• 測試良率控製
• 通用治具
• 進階版ESD標準

3160係列是一係列適合量產(chan) 、高產(chan) 出、多平行測試站點的高速IC測試分類機。此係列分類機運用Pick & Place技術，能夠配合多種封裝類型並按照測試結果將它們(men) 排序分類予分料盤中。 其高效率的模組 化設計與(yu) 精準的機構傳(chuan) 動結構可確保在高速運作下，機台量測之重覆性，並有助於(yu) 增加機台使用之穩 定性與(yu) 維護之便利性。此外，其簡潔的機台設計更可節省機台於(yu) 測試廠之佔地麵積，幫助客戶大幅降 低生產(chan) 成本。進階款3160A可按照客戶測試條件需求搭配Chroma研發的主動式熱控模組 (ATC) 達 到精準的常、高溫測試溫度要求；3160F則可依其待測物 (指紋辨識芯片) 的不同需求，修改測試條件 及程序。

3160係列具備高可靠性的處理機製可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片，且能與(yu) 通用生產(chan) 治具相容，順暢的自動化技術滿足高產(chan) 能和低Jam Rate的量產(chan) 要求。此外，可調式的壓測力和位置校 正以及各種感應裝置可降低待測物發生突如其來的損壞，和幫助延長socket的使用期，同時保持或提 升產(chan) 能的良率。