可程控邏輯腳位模組 Model 36010

可程控邏輯腳位模組 Model 36010

主要特色：

• 相容於PXI 3U/混合式PXI匯流排
• Date ratezui高為100MHz
• 8個per-pin, per-cycle的 I/O雙向控製通道
• 可擴充至64 pin
• 32M sequence command 記憶體
• 17種以上的pattern sequence 指令
• Per-pin 控製架構
• 每一腳位有 32M vector 記憶體
• 每一腳位有 32 組 clock 及 waveform
• 可快速切換 Waveforms 種類
• 可編寫的tri-level driver, 解析度達 610uV
• 每個模組皆具備高電壓驅動器
• Per-channel PMU
• Per-channel 時間量測元件
• 支援 scan pattern 功能
• Windows 2000/XP 作業係統
• 支援 LabView 與 LabWindows
• 可選購專用軟體 CRISP

應用範圍

• Logic and mixed signal validation and test
• Digital pattern generator and vector capture
• Consumer IC and electronics test
• Logic test subsystem for DC and RF ATE

36010 可程控 100MHz 邏輯腳位模組，可用於(yu) 特性分析、驗證以及數位 / 混合訊號 IC或電子元件測試。每個(ge) 模組包含一組Sequence Pattern Generator以及8個(ge) I/O雙向控製通道。36010zui多可擴充達64組通道以符合不同用途，此外，基於(yu) per-pin的架構, 每個(ge) 通道皆配有32M的vector memory、32組clock、32組waveform與(yu) 1個(ge) PMU channel，與(yu) 其他類似性能的 ATE 設備相比， 36010 可提供快速且精確的測試功能。

Sequence Pattern Generator 
36010 可程控邏輯腳位模組提供17種以上的 sequence 指令，包括 jump、match、 loop、 repeat等，可以控製pattern的執行流程。 36010 配有 32M的 sequence command 記憶體(ti) ，允許每行 vector 擁有獨立的sequence command 來控製 pattern的執行流程。此外, 每個(ge) Sequence Pattern Generator 可以支援zui多8個(ge) Logic Pin Electronics Cards, 即表示zui多可支援64 個(ge) I/O channels 與(yu) 8個(ge) DUT同時測試。

邏輯腳位模組 
每張邏輯腳位卡皆採用 Chroma® PINF ICs 來達到高精準的timing及彈性化 waveform output 功能。Per-pin timing generator 提供32組clock，包含6個(ge) 可編輯的edges。至於(yu) per-pin waveform generator則可提供每組I/O雙向控製通道 32 組可編輯的 waveform，具有快速切換的特性。在 analog的功能中，邏輯腳位模組具有tri-level的 driver 與(yu) comparator，可編寫(xie) 解析度達610uV， 36010 同時配有 active load、per-pin PMU 以及高電壓驅動功能。另外，36010 也支援scan pattern 功能，可進行掃描測試。

專(zhuan) 用軟體(ti) CRISP(Chroma Integrated Software Platform) 
除了支援 LabView 與(yu) LabWindows 環境之外, Chroma® 也提供了專(zhuan) 用軟體(ti) CRISP作為(wei) 選擇。為(wei) 了涵蓋各種IC debugging的需求，CRISP包含許多軟體(ti) 模組，CRISP的作業(ye) 平台為(wei) Microsoft Windows XP®，使用 C++ 作為(wei) 測試程式語言，提供使用者簡易、彈性化以及快速的圖形化介麵軟體(ti) 來符合各種需求。Project IDE tool 可以讓測試程式的產(chan) 生更為(wei) 簡單與(yu) 快速；在 test program debugging 的場合，CR I S P 提供完整的 d e b u g gi n g 軟體(ti) 工具，包含 Pl an Debugge r、Da t a log、 Waveform、Scope、SHMOO、Pin Margin、 Wafer Map、Summary、Histogram、STDF、Test Condition Monitor、Pattern Editor等完整的工具給使用者。