PID絕緣測試儀TOS7210S

PID絕緣測試儀(yi) TOS7210S

什麽(me) 是PID現象？
PID現象是指太陽能電池與(yu) 邊框長期被施以高電壓，電池發電量顯著降低的現象。目前認為(wei) 所施加的電壓越高，越是在高溫、高濕的環境下劣化現象越嚴(yan) 重。如晶體(ti) 矽太陽能電池模塊的輸出電壓即使隻有數十V，一旦直接連接的片數增加，串內(nei) 的電位差將變得非常高。一方麵，PCS（Power Conditioning System）作為(wei) 交流電源與(yu) 係統相連,使接地形態發生變化。輸入端采用浮接（一側(ce) 電極不能接地線）的無變壓器方式近年有所增加。這種情況下電池和地線間將發生高電位差。現在可明確的是，晶體(ti) 矽太陽能電池模塊中，相對於(yu) 邊框（接地線）負極電位高的電池容易發生PID現象。（請參照圖1）目前，日本國內(nei) 以zui大600V、歐洲以zui大1000V的係統電壓運行太陽能電池模塊，但是目前出現了提高zui大係統電壓以削減企業(ye) 用大規模太陽能發電係統的串數、PCS總數，提高發電效率的趨勢。 

圖2模擬了晶體(ti) 矽太陽能電池模塊的處於(yu) 高電位差的狀況。邊框為(wei) 正極電位、模塊電路處於(yu) 負*電位的狀況。目前認為(wei) 是由於(yu) 超白鋼化玻璃內(nei) 的鈉離子向電池側(ce) 遷移而引起劣化。（薄膜太陽能電池模塊也被確認出現PID現象，但是發生劣化的機製與(yu) 晶體(ti) 矽太陽能電池模塊不同。）現在，各種研究機構正在通過研究、試驗查找PID現象的原因。

特長

• 可任意設定輸出電壓
  可將對被檢品施加的測試電壓設定在50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）範圍內。假設太陽能發電係統的電壓在1000V以上，可對其進行評估。此外，在電氣/電子部件、電氣/電子設備的絕緣電阻測試中，也可對應JIS C 1302: 1994所規定的電壓範圍以外的測試。在50V-1000V範圍內，輸出特性以JIS C 1302: 1994為基準。 
• 極性切換功能
  可通過主機麵板的開關輕鬆切換輸出極性。PID現象是一種可逆現象，施加負偏壓電壓可能會恢複。極性切換是一項不需要對被檢品實施配線變更的便利功能。此外，通過RS232C接口可實施由外部控製的切換。 
• 建立輸出端的浮地
  輸出端子與接地電位間為浮地狀態(*1)。此外，使用屏蔽電纜作為輸出電纜 (TL51-TOS)。這樣就不會測量被檢品與大地間的電流，隻測量測試點間的電流，可確保評估測試的高敏感度和精確性。
  *1：設定為正極的端子的對地電壓（±1000Vdc）設定為負極的端子的對地電壓（+1000Vdc及-3000Vdc） 
• 模擬輸出端子
  在電阻顯示模式中，基於對數壓縮將對應電阻測量值的電壓輸出限製在0V-4V之間。在電流顯示模式中，對應電流測量值及測量量程（4個量程）按線性標度輸出。使用數據記錄器等外部記錄設備可對被檢品的變化、劣化狀況進行解析。

 陣容